二次离子质谱(SIMS)用于检测和微量元素特征达到或接近表面的固体或薄膜允许研究人员理解表面的化学成分。这种表面科学技术需要使用系统具有很高的敏感性和执行高分辨率能量分析的能力。西姆斯对于各种表面分析非常有用。例如,西姆斯可以用来检测和分析表面污染物,分析材料和设备,以确保特定产品的质量,和研究原子尺度缺陷可能发生在半导体芯片的制造或其他材料。

我们的EXTREL™MAX-QMS™质谱仪系统这些应用程序所需的性能和灵活性。MAX-QMS系统可用的最高性能四极分析器。开云手机版app下载安装最新版加上我们的高传播能量过滤器,MAX-QMS系统提供所需的高性能高精度表面分析和深度剖析。开云网页登录系统提供了最好的性能价格比。生产的法兰安装质谱仪Extrel允许用户添加静态和动态模拟人生现有系统的能力。

西姆斯的产品包括

• 轴向能量分析仪
• 横梁偏转离子发生器
• MAX-QMS法兰安装质谱仪
• 串联能量过滤离子发生器,降低了信噪比